产品中心
PRODUCT CENTER
扫描透射电子计数解决方案（STEM Electron Counting）
——具有单电子技术能力的低剂量扫描透射电子计数解决方案
扫描透射电子计数是一种广泛应用于材料科学及纳米技术领域的强大技术，主要用于纳米颗粒及晶体缺陷表征、以及原子尺度生物结构成像。
该系统具备校准单个电子信号的能力，能够确保获得真实零背景噪音的原始信号，从而提高测量结果的精度和准确性。
主要系统部件：
1）多分割STEM探测器
・能够同时实现HAADF、ADF、BF像输出
・单电子灵敏（60-300keV）
・带前置放大的PN硅二极管传感器设计
・电动伸缩控制
2）多种探测器设计选择
・提供多种探头分割及中心孔径选择
・配备前置放大器优化初始信号强度
3）模拟脉冲判别器
・实现单电子脉冲模拟信号转换为数字信号
・具有超阈值逻辑的模拟判别器
・每个通道独立可设置阈值
4）turboTEM 脉冲信号判别器
・基于turboTEM脉冲技术开发
・基于梯度逻辑技术的数字化判别器
・通过计数堆积脉冲方式提升计数剂量范围
5）LJ DISS6扫描控制器
・集成探测器控制/脉冲识别/扫描发生器/图像采集多功能与一体专用控制器
・具备多个数字和模拟信号输入
・具备多个触发方式和同步接口设计
・提供软件API及标准源代码的软件
6）多通道放大器
・能够实现每个通道信号独立放大
・每个信号能够独立调节亮度/对比度等信息
・满足多分割成像需求的高级输入和增益归一化设计
真正的零背景以及零噪音电子计数解决方案
DISS6-探头控制和图像采集软件界面
DIPS6-图像处理应用程序
400-606-8199
沪公网安备 31011702008509号
