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PRODUCT CENTER

透射电子显微镜(TEM)用机械预处理试样。大大减少了离子束减薄的最终制备过程所花费的时间。
主要性能特点:
- 准确可靠
- 样品研磨度厚及最终剩余厚度精确控制
- 可研磨直径不超过18 mm的试样
- 极好的稳定性
- 不需要额外的力
- 大直径样品的极佳稳定性
- 研磨制作厚度均匀、上下表面平行的试样
- 可转移至Fischione 200型凹坑仪进行进一步的减薄
更新中...
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400-606-8199
沪公网安备 31011702008509号