2026年3月24日，由CTI华测检测半导体检测及分析中心主办的“Nanoprobe纳米探针技术研讨会”在上海浦东凌阳大厦成功举办。本次会议聚焦纳米探针检测技术在半导体失效分析与器件表征领域的应用，围绕晶体管级原位电性表征、芯片失效精准归因、金属互连微观缺陷探秘及器件可靠性检测等方向展开深入研讨，吸引了来自半导体设计、制造、封测及车规电子等领域的行业同仁积极参与。

上海微纳国际贸易有限公司作为专业的电镜制样设备及电镜功能扩展附件供应商，受邀参加本次会议。其中，上海微纳代理品牌Imina Technologies全球销售总监Rob Claassen带来题为《Imina NanoProbing and EFA solution for Semiconductor Industry》的精彩报告。Rob Claassen系统介绍了Imina Technologies在纳米探针及电性失效分析领域的最新技术解决方案。报告重点展示了Imina自研移动机器人技术，该方案将亚纳米级分辨率与厘米级移动范围相结合，核心机械手可与主流电镜设备匹配，配套软件优化了全流程操作，为半导体失效分析提供了高效、可靠的检测工具。

报告现场

会议期间，上海微纳在会场设立了技术展位，展示了包括Imina纳米探针系统、Fischione 1061 SEM 氩离子抛光仪制样设备等在内的先进产品。在实机演示环节，现场展示了Imina纳米机械手搭载SEM机台所组成的纳米探针检测系统，直观呈现EBIC/EBAC失效分析的全流程操作，使参会嘉宾近距离体验纳米探针技术的实际应用价值。展位吸引了众多参会代表驻足交流，公司技术人员就产品性能、技术特点及应用场景提供了专业解答与支持。

展位现场

本次Nanoprobe纳米探针技术研讨会的成功举办，为半导体检测领域的技术交流与产学研合作搭建了高质量平台，对推动纳米探针技术在失效分析领域的应用具有重要意义。上海微纳通过深度参与本次会议，进一步加强了与半导体检测领域用户的联系，展示了公司在电镜制样、原位分析及纳米探针技术方面的综合实力。未来，公司将继续依托全球优质设备资源与本地化服务优势，为中国半导体产业的技术创新提供更优质的产品与技术支持。

上海微纳国际贸易有限公司作为一家专注于电镜制样设备及扩展电镜功能原位及成像附件设备的供应商，目前是美国Fischione公司、Protochips公司、LatticeGear公司、IBSS公司，瑞士Dectris公司（电镜产品线）、condenZero公司、IMINA公司，英国SPTLabtech公司、Quorum公司、Deben公司，丹麦InsightChips公司、德国PNDetector公司、Point Electronic公司在中国区的总代理，并进一步获得Fischione、Protochips、Quorum、Dectris（电镜产品线）、Point Electronic、PNDetector和Deben在东南亚地区的独家代理权（授权区域：新加坡、马来西亚、印度尼西亚、菲律宾、越南、老挝、柬埔寨、泰国），同时为更好地服务东南亚客户，公司成立了新加坡分公司——Singapore Winner Scientific Instruments PTE LTD。